Las pruebas de acceso a los ciclos formativo de FP serán el 1 y 2 de julio en el IES l’Eliana
El periodo de inscripción estará abierto del 25 al 29 de mayo y las personas aspirantes podrán remitir las solicitudes de inscripción al correo electrónico del centro donde quieren hacer la prueba
La Conselleria de Educación, Cultura y Deporte ha convocado las pruebas de acceso a los ciclos formativos de Formación Profesional de grado medio y grado superior para los próximos días 1 y 2 de julio. Estas pruebas, dirigidas tanto a los alumnos de la Escuela de Formación de Adultos (EPA) de l’Eliana que se están preparando como a las personas que se presentarán por libre, dan acceso a cursar estudios de FP a aquellos aspirantes que, aunque no dispongan de los requisitos académicos, las superen.
Las pruebas de acceso serán presenciales si las autoridades sanitarias lo permiten y se desarrollarán teniendo en cuenta las instrucciones de separación entre los aspirantes y poniendo en marcha los protocolos de desinfección y limpieza fijadas para garantizar la seguridad tanto del alumnado como del profesorado en el momento de realizar los exámenes. En el caso de l’Eliana los exámenes de acceso a ciclos formativos tanto de grado medio como superior se celebrarán en el Instituto de Educación Secundaria.
El plazo de inscripción en las pruebas es del 25 al 29 de mayo. La Conselleria de Educación, ante la situación originada por la pandemia de COVID-19, y con la finalidad de evitar desplazamientos para presentar las solicitudes en los centros docentes, ha habilitado la posibilidad de remitirlas por correo electrónico a la secretaría de los centros docentes donde se quiere hacer la prueba.
La concejala de Educación, Eva Santafé, ha insistido en "la importancia de convocar estas pruebas para no dejar atrás a nadie a nivel educativo" y ha recordado que el Ayuntamiento ha puesto también a disposición de los vecinos y vecinas el teléfono 96 275 80 30, extensión #520, para aclarar cualquier duda al respecto con el objetivo de facilitar los trámites electrónicos.